- 04 de septiembre de 2023
- Prensa, Prensa Media Superior y Superior
Firman Carta Intención para fortalecer la Educación Superior del Sur de Tamaulipas

0705-2023
Septiembre 04, 2023
Ciudad de México.
• La Secretaria de Educación en el Estado, Lucía Aimé Castillo Pastor, estuvo como testigo de honor en la firma de la Carta intención entre el Centro de Nanociencias y Micro y Nanotecnologías del Instituto Politécnico Nacional y la Universidad Tecnológica de Altamira.
Fortalecer el sistema educativo superior, para formar egresados con perfiles profesionales que requiere la industria de las diferentes regiones de Tamaulipas, es una prioridad del gobernador del Estado, Américo Villarreal Anaya, y como muestra de este compromiso con la juventud tamaulipeca, se llevó a cabo en la Ciudad de México, la firma de la Carta Intención entre el Centro de Nanociencias y Micro y Nanotecnologías del Instituto Politécnico Nacional y la Universidad Tecnológica de Altamira.
La Secretaria de Educación en Tamaulipas, Lucía Aimé Castillo Pastor, asistió como testigo de honor a la formalización de este acuerdo entre ambas instituciones, como parte de la creación de alianzas que contribuyan con la transformación de la educación superior en la entidad.
La firma de esta Carta Intención tiene como finalidad, realizar intercambios de experiencias a través de cursos de capacitación en el área de semiconductores, asesorías y conferencias, además, de la movilidad académica de estudiantes y docentes.
La Carta Intención fue firmada por el Director del Centro, Doctor Oscar Camacho Nieto y por el Rector de la Universidad Tecnológica de Altamira Maestro Juan Dionisio Cruz Guerrero.
También estuvieron presentes, la Dra. Ana Lilia Coria Pérez, Secretaria de Investigación y Posgrado y la Mtra. Jessica Gasca Castillo, Secretaria de Innovación e Integración Social.
Al concluir la firma de la Carta Intención, se realizó un recorrido por los Laboratorios de Microscopía de Fuerza Atómica y Nanoidentificación, Microscopía Electrónica de Barrido de Alta Resolución, Microscopía Electrónica de Transmisión y Modo Criogénico, Microscopía de Barrido de Doble Haz (SEM-FIB) y Resonancia Magnética Nuclear.






















